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摘要:本文件规定了集成电路小外形封装引线框架的术语和定义、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于集成电路小外形封装用引线框架的设计、生产和验收。
Title:Integrated Circuit - Small Outline Package Leadframe
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
在集成电路小外形封装引线框架的标准TZZB 2858-2022中,有一项重要的更新内容是关于引线框架材料性能测试方法的变化。相较于旧版标准,新版标准对引线框架材料的抗疲劳性能提出了更为严格的要求,并且引入了新的测试方法。
以铜合金为例,在TZZB 2858-2022中明确规定了采用循环弯曲试验来评估引线框架材料的抗疲劳性能。这种测试方法通过模拟实际使用过程中引线框架所承受的反复应力,来判断其长期使用的可靠性。具体操作步骤如下:
1. 准备样品:选取符合规格的铜合金片材,按照标准要求裁剪成适当尺寸。
2. 设备设置:将样品固定于专用的弯曲试验机上,调整设备参数至规定值。
3. 开始测试:启动设备,使样品经历预定次数的弯曲循环。
4. 数据记录:记录每次循环后的外观变化及最终断裂情况。
5. 结果分析:根据试验结果评估材料的抗疲劳性能。
这项改动反映了当前电子行业对于提高产品使用寿命和稳定性的需求增加。通过对引线框架材料抗疲劳性能的严格控制,可以有效减少因材料老化导致的功能失效问题,从而提升整个集成电路产品的可靠性和市场竞争力。企业应密切关注这一变化,在生产过程中严格按照新标准执行相关测试,确保产品质量达标。