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资源简介
摘要：本文件规定了使用透射电子显微镜（TEM）对贵金属纳米颗粒进行高角环形暗场（HAADF）成像的方法。本文件适用于贵金属纳米颗粒的形貌、尺寸及分布特性的表征分析。
Title：Nanotechnologies - Imaging of noble metal nanoparticles by electron microscopy - High-angle annular dark-field method
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：35.040 -
封面预览
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拓展解读
弹性方案优化建议
在遵循“GBT 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法”核心原则的基础上，通过灵活调整流程和资源分配，可以有效降低实验成本并提高效率。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。
一、样品制备阶段
- 方案1：采用批量制备方法，同时处理多个样品以减少重复操作时间。
- 方案2：选择性价比更高的基底材料替代传统昂贵材料，确保成像质量不受影响。
二、设备校准与维护
- 方案3：定期维护设备以延长使用寿命，避免因故障导致的时间浪费。
- 方案4：利用现有设备的多任务功能，在一次运行中完成多项测试任务。
三、数据采集与分析
- 方案5：优化图像采集参数，减少不必要的高分辨率扫描次数。
- 方案6：引入自动化数据分析工具，提高处理速度并减少人为误差。
四、团队协作与培训
- 方案7：加强团队成员间的沟通与合作，合理分配任务以提升整体效率。
- 方案8：定期组织培训活动，使员工掌握更多技能，增强应对突发问题的能力。
五、资源管理与成本控制
- 方案9：建立完善的库存管理系统，避免试剂或耗材过期造成浪费。
- 方案10：探索供应商之间的价格竞争机制，在保证质量的前提下选择更经济实惠的合作方。
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