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    GBT 33806-2017 面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪技术要求
    面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪技术要求生物检测
    19 浏览2025-06-09 更新pdf0.38MB 未评分
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    摘要:本文件规定了面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪的技术要求、性能指标、测试方法和质量保证。本文件适用于采用面阵荧光成像技术的微阵列芯片扫描仪的设计、生产和检验。
    Title:Technical requirements for microarray chip scanner with area-array fluorescence imaging
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:11.020

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    GBT 33806-2017 面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪技术要求
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    GBT 33806-2017 面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪技术要求

    面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪是一种用于生物医学、化学分析以及材料科学领域的高精度仪器。该设备通过检测荧光信号来实现对微阵列芯片的高分辨率成像和数据分析。为了规范此类设备的技术标准,中国国家标准化管理委员会发布了 GBT 33806-2017 标准,详细规定了面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪的技术要求。

    技术要求概述

    GBT 33806-2017 标准涵盖了面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪在硬件设计、软件功能、性能指标及测试方法等方面的具体要求。这些要求旨在确保设备的稳定性和可靠性,同时满足不同应用场景的需求。

    硬件设计要求

    • 光学系统: 扫描仪应配备高灵敏度的光学传感器和滤光片,以保证荧光信号的精确采集。
    • 机械结构: 设备需具备稳定的机械平台,能够承受长时间运行并保持扫描精度。
    • 光源: 必须采用均匀分布的光源,避免因光源不均导致的成像误差。

    软件功能要求

    • 图像处理: 软件应支持实时图像预览与优化,提供去噪和增强功能。
    • 数据存储: 系统需具备高效的数据存储机制,支持多种文件格式导出。
    • 用户界面: 提供直观友好的操作界面,便于用户快速上手。

    性能指标要求

    • 分辨率: 扫描仪的分辨率应达到或超过 5 微米,以确保微阵列芯片细节的清晰呈现。
    • 信噪比: 设备的信噪比需高于 40 dB,以减少背景噪声对结果的影响。
    • 扫描速度: 在保证成像质量的前提下,扫描速度应达到行业平均水平。

    测试方法

    为验证设备是否符合 GBT 33806-2017 的技术要求,需进行以下测试:

    • 光学性能测试:评估设备的分辨率、信噪比等关键参数。
    • 稳定性测试:模拟长时间运行环境,检查设备的稳定性和耐用性。
    • 实际应用测试:在真实场景中验证设备的适用性和数据准确性。

    GBT 33806-2017 的发布为面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪的设计和生产提供了明确的技术指导,有助于推动相关领域的发展。未来,随着技术的进步,标准也需要不断更新和完善,以适应新的需求和挑战。

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