-
资源简介
摘要：本文件规定了在X射线光电子能谱（XPS）分析中进行荷电控制和荷电基准的技术要求、方法及注意事项。本文件适用于非导电样品的XPS分析及相关研究领域。
Title：Guidelines for Charge Control and Charge Referencing Techniques in X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
中国标准分类号：J81
国际标准分类号：27.020 -
封面预览
-
拓展解读
GBT 31472-2015主要内容
GBT 31472-2015《X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南》主要规定了在X光电子能谱（XPS）分析中荷电效应的控制方法及荷电基准的技术要求。该标准适用于需要进行精确荷电校正的各种材料分析场景。
- 荷电效应控制： 提供了多种荷电效应的控制手段，包括样品表面处理、荷电屏蔽装置的设计与应用等。
- 荷电基准： 定义了荷电基准的选取原则，并推荐了几种常用的荷电基准材料。
- 测试流程： 规定了荷电校正的具体操作步骤，确保数据的一致性和准确性。
与老版本的变化
相比老版本，GBT 31472-2015在以下几个方面进行了改进和更新：
- 更精确的荷电基准材料选择： 新版标准引入了更多种类的荷电基准材料，以适应不同类型的样品分析需求。
- 优化的荷电控制方法： 增加了对新型荷电屏蔽装置的描述，提供了更高效的荷电控制解决方案。
- 增强的操作指导性： 对测试流程进行了详细说明，增加了实际操作中的注意事项，便于用户更好地执行标准。
- 扩展的应用范围： 标准的应用范围更加广泛，涵盖了更多复杂的材料体系和分析场景。
-
下载说明
预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。
当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。
资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。
如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。