资源简介
摘要:本文件规定了用原子力显微镜(AFM)测量溅射薄膜表面粗糙度的方法,包括样品制备、扫描参数设置、数据分析和结果报告。本文件适用于溅射薄膜表面粗糙度在纳米尺度范围内的测量。
Title:Method for measuring surface roughness of sputtered thin films by atomic force microscopy
中国标准分类号:J80
国际标准分类号:17.040.20
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拓展解读
在遵循GBT 31227-2014
标准的前提下,通过灵活调整操作流程和资源分配,可以在保证测量精度的同时实现成本控制和效率提升。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。