资源简介
摘要:本文件规定了用原子力显微镜(AFM)测量溅射薄膜表面粗糙度的方法,包括样品制备、扫描参数设置、数据分析和结果报告。本文件适用于溅射薄膜表面粗糙度在纳米尺度范围内的测量。
Title:Method for measuring surface roughness of sputtered thin films by atomic force microscopy
中国标准分类号:J80
国际标准分类号:17.040.20
封面预览
拓展解读
在遵循GBT 31227-2014
标准的前提下,通过灵活调整操作流程和资源分配,可以在保证测量精度的同时实现成本控制和效率提升。以下是基于核心业务环节提出的10项弹性方案。
预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。
当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。
资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。
如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。