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资源简介
摘要：本文件规定了太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度的测试方法，包括测量原理、仪器设备要求、试样制备、测试步骤及结果计算。本文件适用于晶体硅太阳能电池用硅片的翘曲度和波纹度的测定。
Title：Test Method for Warp and Bow of Silicon Wafers for Solar Cells
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：27.160 -
封面预览
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拓展解读
GBT 30859-2014主要内容
GBT 30859-2014《太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法》规定了用于评估太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度的测试方法。该标准适用于单晶硅和多晶硅片的检测。
- 翘曲度测试： 使用光学干涉仪或激光扫描仪测量硅片表面的翘曲度。
- 波纹度测试： 通过原子力显微镜（AFM）或接触式轮廓仪来测量硅片表面的波纹度。
- 样品准备： 确保硅片在测试前清洁无污染，并处于标准环境条件下。
- 数据处理： 提供详细的计算公式和数据处理步骤，以确保测试结果的准确性。
与老版本的变化
相比老版本，GBT 30859-2014在以下几个方面进行了改进：
- 更精确的测量设备： 引入了更高精度的光学干涉仪和原子力显微镜，提高了测量的准确性和可靠性。
- 标准化测试环境： 明确了测试时的环境条件要求，如温度、湿度等，以减少外部因素对测试结果的影响。
- 优化的数据处理流程： 更新了数据处理算法，增加了对异常值的识别和处理步骤。
- 扩展适用范围： 增加了对新型硅材料的测试方法支持，使其更加符合现代太阳能电池产业的需求。
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