资源简介
摘要:本文件规定了利用电子背散射衍射(EBSD)技术进行取向分析的方法和步骤,包括样品制备、仪器校准、数据采集与处理等内容。本文件适用于使用扫描电子显微镜(SEM)配备EBSD探测器对晶体材料进行微观组织和晶体学取向分析的领域。
Title:Guidelines for Orientation Analysis by Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Microbeam Analysis
中国标准分类号:J74
国际标准分类号:77.040.99
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拓展解读
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