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摘要:本文件规定了空间红外探测器用碲镉汞外延材料参数的测试方法,包括材料的晶体质量、电学特性、光学特性和缺陷密度等关键参数的测试要求和步骤。本文件适用于空间红外探测器中碲镉汞外延材料的质量评价和性能检测。
Title:Test Methods for HgCdTe Epitaxial Material Parameters of Space Infrared Detectors
中国标准分类号:O4
国际标准分类号:49.080
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拓展解读
什么是 GBT 30110-2013 标准?
GBT 30110-2013 是中国国家标准化管理委员会发布的关于空间红外探测器用碲镉汞(HgCdTe)外延材料参数测试方法的标准。该标准详细规定了用于制造红外探测器的碲镉汞外延材料的关键参数测试方法,包括晶体结构、电学性能、光学性能等。
为什么需要 GBT 30110-2013 标准?
GBT 30110-2013 标准的制定是为了规范碲镉汞外延材料的测试流程,确保其在空间红外探测器中的应用具有可靠性和一致性。通过统一测试方法,可以提高产品质量,满足航天和国防领域对高性能红外探测器的需求。
碲镉汞外延材料的主要测试参数有哪些?
如何进行碲镉汞外延材料的电阻率测试?
电阻率测试通常采用四探针法。具体步骤如下:
为什么带隙宽度是关键测试参数?
带隙宽度直接决定了碲镉汞外延材料的光谱响应范围,从而影响红外探测器的工作波段。例如,带隙较窄的材料适合短波红外探测,而带隙较宽的材料适用于长波红外探测。因此,准确测量带隙宽度对于设计合适的红外探测器至关重要。
GBT 30110-2013 是否适用于所有类型的碲镉汞材料?
GBT 30110-2013 主要针对用于空间红外探测器的碲镉汞外延材料。虽然部分测试方法可能适用于其他类型的碲镉汞材料,但具体适用性需根据实际应用场景判断。对于非空间用途的材料,建议参考其他相关标准。
如何避免测试过程中引入误差?
GBT 30110-2013 是否需要定期更新?
GBT 30110-2013 是一个动态发展的标准,随着技术进步和新材料的应用,可能会适时修订或补充内容。用户应关注最新版本,确保测试方法的先进性和适用性。