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  • GBT 29306.2-2012 绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测定方法.第2部分:谐振法

    GBT 29306.2-2012 绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测定方法.第2部分:谐振法
    绝缘材料介电性能谐振法高频测定方法
    16 浏览2025-06-09 更新pdf0.7MB 未评分
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    摘要:本文件规定了绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能的测定方法,采用谐振法进行测试。本文件适用于需要评估高频条件下绝缘材料介电性能的相关领域。
    Title:Test Methods for Dielectric Properties of Insulating Materials at Frequencies Above 300 MHz - Part 2: Resonance Method
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:29.040

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    GBT 29306.2-2012 绝缘材料在300MHz以上频率下介电性能测定方法.第2部分:谐振法
  • 拓展解读

    GBT 29306.2-2012主要内容

    本标准规定了在300MHz以上频率下,采用谐振法测定绝缘材料介电性能的方法。适用于需要精确测量材料介电常数和介质损耗因数的场合。

    • 适用范围: 适用于频率范围为300MHz至30GHz的绝缘材料。
    • 测试原理: 利用谐振腔的谐振频率和品质因数的变化来间接计算材料的介电常数和介质损耗因数。
    • 测试设备: 包括谐振腔、信号源、频谱分析仪等。
    • 样品要求: 样品需具有一定的几何形状和尺寸,以确保测试结果的准确性。

    与老版本的变化

    相比老版本,新版本(GBT 29306.2-2012)主要在以下几个方面进行了改进:

    • 明确了更高频率范围(300MHz至30GHz)的应用场景。
    • 优化了测试方法的细节,提高了测量精度。
    • 增加了对测试环境的要求,例如温度和湿度的控制。
    • 更新了参考文献和技术规范,确保内容的时效性和科学性。
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