GBT 25934.2-2010 高纯金化学分析方法 第2部分：ICP-MS-标准加入校正-内标法 测定杂质元素的含量

高纯金中杂质元素含量测定的创新方法

高纯金因其在电子、航空航天和医学领域的广泛应用，对其纯度的要求极为严格。为了确保高纯金的质量，准确测定其中的杂质元素含量至关重要。本文基于 GBT 25934.2-2010 标准，探讨了利用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）结合标准加入校正与内标法的创新性检测手段。

• 标准加入校正法的优势

标准加入校正法是一种有效的校正基体效应的方法，尤其适用于复杂基体样品的分析。通过向样品中添加已知浓度的标准溶液，并对比加入前后信号强度的变化，可以有效消除基体效应带来的干扰，提高测量结果的准确性。

• 内标法的应用

内标法通过引入一个稳定的同位素作为内标物，可以补偿仪器漂移和进样系统变化对测量结果的影响。这种方法能够显著提高数据的稳定性和重复性，特别是在痕量元素分析中具有不可替代的作用。

• 实验设计与流程
• 首先，选择适合的内标元素，并优化其浓度以匹配待测样品的基体组成。
• 其次，采用标准加入法构建校正曲线，确保数据的线性范围和精度。
• 最后，通过多次平行测定验证方法的可靠性和重现性。

本研究证明，结合标准加入校正与内标法的 ICP-MS 技术能够在高纯金中实现杂质元素的高效、精准测定。这一方法不仅提高了检测效率，还为高纯金的质量控制提供了科学依据。