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    GBT 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法
    光学功能薄膜翘曲度测定方法薄膜特性测量技术
    22 浏览2025-06-09 更新pdf0.31MB 未评分
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    摘要:本文件规定了光学功能薄膜翘曲度的测定方法,包括测量原理、仪器设备要求、试样制备、测量步骤及结果计算。本文件适用于各类平面光学功能薄膜的翘曲度测量。
    Title:Determination Method of Warpage for Optical Functional Films
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:31.140

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    GBT 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法
  • 拓展解读

    GBT 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法

    该标准规定了光学功能薄膜翘曲度的测定方法,适用于各类光学功能薄膜材料。

    主要内容

    • 适用范围:
      • 适用于厚度在0.05mm至2.0mm之间的光学功能薄膜。
      • 包括但不限于反射膜、增透膜、偏振膜等。
    • 测试原理:
      • 通过测量薄膜在特定条件下的弯曲变形程度来确定翘曲度。
      • 采用接触式或非接触式的测量仪器进行检测。
    • 测试条件:
      • 环境温度: 23±2℃。
      • 相对湿度: 50±10%。
    • 结果表示:
      • 翘曲度以毫米(mm)为单位表示。
      • 需记录测试过程中的详细数据并生成报告。

    与老版本的变化

    • 增加了对新型光学功能薄膜材料的适用性说明。
    • 改进了测试条件的具体要求,提高了测量精度。
    • 优化了测试设备的选择指南,推荐使用更高精度的测量仪器。
    • 明确了翘曲度的计算公式,并提供了详细的示例。
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