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资源简介
摘要：本文件规定了光学功能薄膜翘曲度的测定方法，包括测量原理、仪器设备要求、试样制备、测量步骤及结果计算。本文件适用于各类平面光学功能薄膜的翘曲度测量。
Title：Determination Method of Warpage for Optical Functional Films
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：31.140 -
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拓展解读
GBT 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法
该标准规定了光学功能薄膜翘曲度的测定方法，适用于各类光学功能薄膜材料。
主要内容
- 适用范围:
- 适用于厚度在0.05mm至2.0mm之间的光学功能薄膜。
- 包括但不限于反射膜、增透膜、偏振膜等。
- 测试原理:
- 通过测量薄膜在特定条件下的弯曲变形程度来确定翘曲度。
- 采用接触式或非接触式的测量仪器进行检测。
- 测试条件:
- 环境温度: 23±2℃。
- 相对湿度: 50±10%。
- 结果表示:
- 翘曲度以毫米（mm）为单位表示。
- 需记录测试过程中的详细数据并生成报告。
与老版本的变化
- 增加了对新型光学功能薄膜材料的适用性说明。
- 改进了测试条件的具体要求，提高了测量精度。
- 优化了测试设备的选择指南，推荐使用更高精度的测量仪器。
- 明确了翘曲度的计算公式，并提供了详细的示例。
- 适用范围:
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