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摘要:本文件规定了太阳电池用硅单晶的术语和定义、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以直拉法或区熔法生长的用于制造太阳电池的硅单晶。
Title:Silicon monocrystals for solar cells
中国标准分类号:H61
国际标准分类号:27.060
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拓展解读
以下是关于 GBT 25076-2010 标准的一些常见问题及其详细解答,帮助您更好地理解和应用该标准。
问题描述:GBT 25076-2010 是什么标准?它适用于哪些场景?
详细回答:GBT 25076-2010 是中国国家标准化管理委员会发布的关于太阳电池用硅单晶的技术标准。该标准规定了用于制造太阳电池的硅单晶的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。适用于太阳能光伏行业,特别是生产高效能太阳电池所需的硅材料。
问题描述:GBT 25076-2010 中对硅单晶的主要技术指标有哪些具体要求?
详细回答:GBT 25076-2010 对硅单晶的主要技术指标包括:
问题描述:少子寿命是什么?GBT 25076-2010 中对其有何要求?
详细回答:少子寿命是指半导体材料中少数载流子(电子或空穴)在非平衡状态下的平均生存时间。GBT 25076-2010 要求少子寿命不低于 50 μs,这是为了确保硅单晶具有良好的光电性能,从而提高太阳电池的转换效率。
问题描述:GBT 25076-2010 对硅单晶中的氧含量有何要求?为什么需要控制氧含量?
详细回答:GBT 25076-2010 规定硅单晶中的氧含量不得超过某一限值(通常为 10 ppma 或更低)。这是因为过高的氧含量会在后续加工过程中形成缺陷,降低硅单晶的质量,进而影响太阳电池的性能和可靠性。
问题描述:GBT 25076-2010 对硅单晶中的碳含量有何要求?为什么需要控制碳含量?
详细回答:GBT 25076-2010 要求硅单晶中的碳含量尽可能低,通常不超过 1 ppma。碳含量过高会导致材料内部形成复合中心,增加光生载流子的复合概率,从而降低太阳电池的光电转换效率。
问题描述:GBT 25076-2010 对硅单晶的位错密度有何要求?为什么需要控制位错密度?
详细回答:GBT 25076-2010 要求硅单晶的位错密度低于某一限值(通常为 10³ cm⁻² 或更低)。位错是晶体缺陷的一种形式,过多的位错会降低硅单晶的机械强度和光电性能,因此需要严格控制。
问题描述:GBT 25076-2010 是否适用于所有类型的太阳电池?是否有适用范围限制?
详细回答:GBT 25076-2010 主要适用于基于硅单晶的太阳电池,尤其是高效能太阳电池。对于其他类型的太阳电池(如薄膜电池),该标准可能不完全适用。因此,在选择材料时需根据具体应用场景进行判断。