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摘要:本文件规定了用高分辨率X射线衍射测量GaAs衬底上生长的AlGaAs中铝成分的试验方法。本文件适用于半导体材料中AlGaAs层铝成分的定量分析。
Title:Test Method for Aluminum Composition in AlGaAs Grown on GaAs Substrate by High Resolution X-ray Diffraction
中国标准分类号:J72
国际标准分类号:47.020.30
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拓展解读
在遵循GBT 24576-2009标准的前提下,通过优化试验流程和资源配置,可以在保证结果准确性的基础上提升灵活性并降低试验成本。以下是10项可行的弹性方案。