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    GBT 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
    超导体微波频率表面电阻测量方法电子学特性
    14 浏览2025-06-09 更新pdf1.02MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了在微波频率下测量超导体表面电阻的方法及要求。本文件适用于超导材料在微波频段的性能评估及相关应用领域。
    Title:Measurement of electronic properties - Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:17.220.20

  • 封面预览

    GBT 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
  • 拓展解读

    GBT 22586-2018主要内容

    GBT 22586-2018《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》规定了超导体在微波频率下表面电阻的测量方法和要求。该标准适用于各种超导材料,包括高温超导体和低温超导体。

    • 明确了测量环境的要求,包括温度、磁场和频率范围。
    • 详细描述了测量设备的配置,例如射频网络分析仪、谐振腔等。
    • 提供了数据处理和结果表达的具体步骤。

    与老版本的变化

    相比GBT 22586-2008,新版本的主要变化如下:

    • 扩展了适用范围:增加了对新型超导材料的适用性。
    • 优化了测量精度:改进了对高频段测量的准确度要求。
    • 更新了技术细节:补充了更多关于谐振腔设计和校准的内容。
    • 强化了安全规范:新增了对操作人员的安全指导。
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