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资源简介
摘要：本文件规定了半导体分立器件中微波器件的术语、定义、符号、测试条件、测试方法和技术要求。本文件适用于半导体分立微波器件的设计、生产和验收。
Title：Semiconductor Devices - Discrete Devices - Part 4: Microwave Devices
中国标准分类号：M53
国际标准分类号：31.080.01 -
封面预览
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拓展解读
GBT 20516-2006 主要内容
该标准规定了分立半导体微波器件的分类、命名规则、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等内容。
对比老版本的变化
- 分类细化：新版本对微波器件的分类更加详细，增加了新型器件的描述。
- 技术要求更新：提高了某些关键性能指标的要求，例如工作频率范围和功率容量。
- 试验方法改进：引入了更先进的测试技术和设备，确保测量结果的准确性和可靠性。
- 环保要求：新增了关于环保材料使用的条款，强调减少有害物质的使用。
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