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摘要:本文件规定了高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法,包括测试原理、设备要求、样品制备、测试步骤及数据处理等内容。本文件适用于高频介质基板材料性能的评估与质量控制。
Title:Test Method for Dielectric Constant and Dissipation Factor of High Frequency Dielectric Substrates - Strip Line Method
中国标准分类号:
国际标准分类号:31.140
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拓展解读
本文以TCSTM 00910-2022中带状线测试法对高频介质基板介电常数和介质损耗角正切测量的关键步骤——校准过程为切入点,深度解读其在实际操作中的应用。
在该标准中,校准过程是确保测量结果准确性的关键环节。与旧版标准相比,新版对校准步骤进行了更为详细的规范,新增了对校准件的具体要求及校准环境条件的规定。具体表现为:要求校准件需具备高精度且在测试频率范围内具有稳定的介电性能;同时,测试环境温度应控制在(23±2)℃,相对湿度不超过65%,以减少外界因素对校准结果的影响。
在实际操作过程中,首先需要准备标准校准件,将其放置于与待测样品相同的测试环境中预处理至少4小时。然后按照标准规定的顺序依次连接校准件进行开路、短路和负载校准。在此过程中,要特别注意连接的稳定性,避免因接触不良导致误差。完成校准后,记录下校准数据,并利用这些数据对后续的待测样品测试结果进行修正,从而得到准确的介电常数和介质损耗角正切值。
通过严格遵循这一校准流程,可以显著提高测试结果的可靠性,为高频介质基板的设计与应用提供有力的数据支持。