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    TCIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法
    磁随机存储器数据保持时间测试方法存储器件可靠性
    14 浏览2025-06-02 更新pdf1.25MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了磁随机存储器件数据保持时间的测试方法,包括测试条件、步骤和评估准则。本文件适用于各类磁随机存储器件的数据保持性能评估。
    Title:Test Method for Data Retention Time of Magnetic Random Access Memory Devices
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:31.140

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    TCIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法
  • 拓展解读

    在TCIE 133-2022《磁随机存储器件数据保持时间测试方法》中,有一项重要的更新是关于数据保持时间测试环境条件的规定。与旧版相比,新版标准对测试温度和湿度的要求更加严格,具体体现在增加了高温高湿条件下的测试选项。

    以25℃/60%RH为基准测试条件外,新增了85℃/85%RH这一严苛环境下的测试要求。这一变化的主要目的是为了更准确地评估磁随机存储器件在恶劣工作环境中的可靠性和数据保持能力。例如,在某些工业控制或车载应用中,设备可能会长期处于高温高湿环境中,因此需要确保其数据保持性能不受影响。

    那么如何正确实施这项新的测试呢?首先,要准备好符合要求的恒温恒湿箱,并且能够精确控制温度在±2℃以内、相对湿度在±5%范围内波动。其次,在将待测样品放入测试箱之前,应先让其适应室温环境至少24小时以上,确保样品内部没有因运输或其他因素导致的温差效应。接着,将样品按照规定的引脚连接方式接入测试电路,并设置好读写操作流程。最后,在设定好的高温高湿条件下连续运行72小时后,取出样品立即进行数据读取检查,记录下所有位单元的状态变化情况。

    通过这样的测试过程,可以有效验证磁随机存储器件是否能够在极端环境下依然保持良好的数据完整性,这对于提升产品整体质量和市场竞争力具有重要意义。

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