-
资源简介
摘要：本文件规定了电阻器低频噪声参数的测试方法，包括测试条件、仪器设备要求、测试步骤及数据处理方法。本文件适用于各类电阻器的低频噪声参数评估与质量控制。
Title：Test Method for Low-frequency Noise Parameters of Resistors
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
-
拓展解读
总结 SJT 11768-2020 的主要内容
SJT 11768-2020《电阻器低频噪声参数测试方法》规定了电阻器低频噪声参数的测试方法和要求。该标准适用于各种类型的电阻器，包括但不限于金属膜电阻器、碳膜电阻器等。主要内容包括：
- 测试环境条件
- 测试设备要求
- 测试步骤及操作规范
- 数据处理与结果分析
- 测试报告的格式要求
对比与老版本的变化
与旧版本相比，SJT 11768-2020 做出了以下重要调整：
- 测试环境条件：新增了对温度和湿度的具体要求，以确保测试结果的一致性。
- 测试设备要求：更新了对测试仪器的精度要求，强调了使用高精度数字万用表的重要性。
- 测试步骤：优化了测试流程，增加了对异常数据的处理说明。
- 数据处理：引入了新的数据分析方法，提高了测试结果的准确性。
- 报告格式：明确了报告中必须包含的信息项，并提供了示例模板。
-
下载说明预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。 当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。 资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。 如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。