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    SJT 11211-1999 石英晶体元件参数的测量.第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
    石英晶体元件自动网络分析技术误差校正等效电参数测量方法
    17 浏览2025-06-09 更新pdf1.1MB 未评分
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    摘要:本文件规定了采用自动网络分析技术和误差校正确定石英晶体元件等效电参数的测量方法。本文件适用于石英晶体元件参数的精确测量和分析。
    Title:Measurement of Quartz Crystal Element Parameters - Part 5: Method for Determining Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analysis Technology and Error Correction
    中国标准分类号:M62
    国际标准分类号:31.140

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    SJT 11211-1999 石英晶体元件参数的测量.第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • 拓展解读

    主要内容

    SJT 11211-1999 是关于石英晶体元件参数测量的标准,其第五部分详细描述了如何利用自动网络分析技术以及误差校正方法来确定石英晶体元件的等效电参数。该标准提供了详细的步骤和要求,确保测量结果的准确性和一致性。

    对比老版本的变化

    • 测量技术的更新: 新版本引入了更先进的自动网络分析技术,相比老版本的手动或半自动化方法,显著提高了测量效率和精度。
    • 误差校正方法改进: 强化了误差校正的部分,新增了一些具体的校正算法和公式,以减少测量中的系统误差。
    • 适用范围扩展: 覆盖更多类型的石英晶体元件,并对不同应用场景提出了针对性的测量建议。
    • 标准化流程: 对整个测量过程进行了更加严格的标准化,包括设备校准、数据记录和结果验证等方面。
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