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资源简介
摘要：本文件规定了半导体集成电路电压比较器的测试条件、测试项目、测试方法及测试结果的处理。本文件适用于半导体集成电路电压比较器的测试，其他类型的电压比较器可参照执行。
Title：Test Methods for Semiconductor Integrated Circuit Voltage Comparators
中国标准分类号：M52
国际标准分类号：31.080.01 -
封面预览
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拓展解读
概述
SJT 10805-2018 是关于半导体集成电路电压比较器测试方法的标准，旨在规范和优化电压比较器的测试流程和技术要求。
主要内容
- 测试环境: 明确了测试所需的温度、湿度等环境条件，确保测试结果的准确性。
- 测试项目: 包括输入失调电压、响应时间、功耗等关键指标的详细测试方法。
- 数据记录: 规定了数据采集的方式和格式，强调了数据完整性和可追溯性。
- 安全规范: 提出了在测试过程中应遵守的安全操作规程，以保障人员和设备的安全。
与老版本的变化
- 更严格的环境要求: 新版标准对测试环境提出了更高的精度要求，例如温度波动范围缩小。
- 新增测试项目: 增加了对低功耗模式下的性能测试，以适应现代集成电路的需求。
- 优化测试流程: 对部分测试步骤进行了简化，提高了测试效率。
- 强化数据管理: 强调了电子化数据管理和备份的重要性，取代了旧版的手动记录方式。
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