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    SJT 10584-1994 微电子学光掩蔽技术术语
    微电子学光掩蔽技术术语半导体制造光刻
    15 浏览2025-06-09 更新pdf0.99MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了微电子学光掩蔽技术领域的相关术语和定义。本文件适用于微电子学领域中涉及光掩蔽技术的研究、设计、生产和应用。
    Title:VLSI Technology - Terminology for Photomask Technology
    中国标准分类号:L70
    国际标准分类号:31.140

  • 封面预览

    SJT 10584-1994 微电子学光掩蔽技术术语
  • 拓展解读

    主要内容

    SJT 10584-1994《微电子学光掩蔽技术术语》是一部规范性文件,主要定义了与微电子学光掩蔽技术相关的专业术语及其解释。该标准旨在为相关领域的研究、设计、生产和应用提供统一的术语和定义。

    • 术语范围:涵盖了光掩蔽技术的基本概念、工艺流程、设备工具以及相关的材料特性。
    • 标准化定义:对光掩蔽技术中涉及的关键术语进行了详细的定义,包括曝光技术、掩膜版制作、光学系统等。
    • 适用领域:适用于微电子制造、半导体工业及相关科研机构。

    与老版本的变化

    与早期版本相比,SJT 10584-1994在内容和结构上进行了优化和更新,具体变化如下:

    • 新增术语:
      • 增加了近年来发展迅速的技术术语,如激光直写技术。
      • 补充了新型材料相关的专业词汇。
    • 术语修订:
      • 对部分原有术语的定义进行了细化和调整,使其更加精确。
      • 修正了一些过时或不准确的描述。
    • 结构调整:
      • 重新组织了章节结构,使内容更具逻辑性和条理性。
      • 增加了索引部分,便于用户快速查找所需术语。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

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