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    SJT 10569-1994 电子元器件详细规范 CC4型瓷介固定电容器 评定水平E
    电子元器件瓷介固定电容器CC4型评定水平E技术要求
    18 浏览2025-06-09 更新pdf0.21MB 未评分
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    摘要:本文件规定了CC4型瓷介固定电容器的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于评定水平E的CC4型瓷介固定电容器的设计、生产和验收。
    Title:Electronic Components Detailed Specification for CC4 Type Ceramic Fixed Capacitors, Evaluation Level E
    中国标准分类号:L10
    国际标准分类号:31.140

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    SJT 10569-1994 电子元器件详细规范 CC4型瓷介固定电容器 评定水平E
  • 拓展解读

    SJT 10569-1994标准概述

    SJT 10569-1994是中国国家标准化管理委员会制定的一项技术标准,用于规范CC4型瓷介固定电容器的生产、检测和应用。该标准不仅定义了电容器的技术要求,还明确了其质量评定的等级与方法。其中,“评定水平E”是该标准中一个重要的质量评定指标,它代表了较高的可靠性与稳定性要求,适用于对电子设备性能有严格要求的应用场景。

    CC4型瓷介固定电容器的特点

    CC4型瓷介固定电容器是一种广泛应用于电子电路中的关键元件,其主要特点包括高绝缘电阻、低损耗、耐高温以及良好的频率特性。这些特性使其成为高频电路、滤波器和耦合电路的理想选择。此外,瓷介材料本身具有优异的机械强度和化学稳定性,能够有效应对各种恶劣的工作环境。

    • 高精度制造工艺: CC4型电容器采用先进的陶瓷烧结技术和精密涂覆工艺,确保其容值误差控制在±5%以内。
    • 广泛应用领域: 这种电容器常用于通信设备、计算机主板以及航空航天等领域,尤其适合需要高可靠性的场合。

    评定水平E的意义

    “评定水平E”是SJT 10569-1994标准中针对产品质量提出的一个具体分级体系。评定水平E意味着产品需通过更为严格的测试程序,包括但不限于高温老化试验、振动冲击试验及长期稳定性测试等。这些测试旨在验证电容器在极端条件下的性能表现,从而保证其在实际应用中的可靠性和耐用性。

    • 测试项目详解:
      • 高温老化试验:模拟长时间工作状态下的温度变化,检查电容器是否出现参数漂移现象。
      • 振动冲击试验:评估电容器在运输或安装过程中可能受到的物理损伤。
      • 长期稳定性测试:监测电容器在连续运行数千小时后的性能变化。

    实际案例分析

    以某知名通信设备制造商为例,其生产的一款基站设备采用了符合SJT 10569-1994标准评定水平E要求的CC4型瓷介固定电容器。经过长达三年的实际运行测试表明,这批电容器未发生任何失效情况,显著提升了整机的稳定性和使用寿命。这一成功案例充分证明了评定水平E对于保障产品质量的重要性。

    综上所述,SJT 10569-1994标准及其评定水平E为CC4型瓷介固定电容器的设计与生产提供了科学依据,同时也为相关行业的技术创新奠定了坚实基础。未来,随着电子技术的发展,这类高性能电容器将在更多高端领域发挥重要作用。

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