-
资源简介
摘要：本文件规定了锗单晶片的技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于以区熔法或直拉法生长的锗单晶制得的单晶片，主要用于半导体器件领域。
Title：Germanium Monocrystalline Wafers
中国标准分类号：H22
国际标准分类号：29.045 -
封面预览
-
拓展解读
GBT 15713-1995 锗单晶片
主要内容总结：
- 规定了锗单晶片的术语和定义。
- 详细描述了锗单晶片的技术要求，包括尺寸、电阻率、位错密度等指标。
- 明确了试验方法，用于检测锗单晶片的各项性能参数。
- 提供了检验规则，确保产品符合标准要求。
- 规定了标志、包装、运输和贮存的具体要求。
与老版本的变化对比：
- 增加了对环境友好型材料的要求。
- 优化了部分技术指标，提高了对电阻率和位错密度的精度要求。
- 更新了试验方法，引入了更先进的检测技术和设备。
- 完善了包装和运输规范，以减少在物流过程中的损坏风险。
-
下载说明预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象，仅为图片呈现问题，不影响文档的下载及阅读体验。 当文档总页数显著少于常规篇幅时，建议审慎下载。 资源简介仅为单方陈述，其信息维度可能存在局限，供参考时需结合实际情况综合研判。 如遇下载中断、文件损坏或链接失效，可提交错误报告，客服将予以及时处理。