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    GBT 14077-1993 双折射晶体和偏振器件测试规范
    双折射晶体偏振器件测试方法光学性能晶体材料
    16 浏览2025-06-09 更新pdf0.69MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了双折射晶体和偏振器件的测试方法、测试条件及数据处理要求。本文件适用于双折射晶体材料及其制成的各类偏振器件的性能检测与评估。
    Title:Test Specifications for Birefringent Crystals and Polarization Devices
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:31.140

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    GBT 14077-1993 双折射晶体和偏振器件测试规范
  • 拓展解读

    GBT 14077-1993主要内容

    GBT 14077-1993《双折射晶体和偏振器件测试规范》规定了用于测量双折射晶体和偏振器件相关特性的测试方法和技术要求。以下是其主要内容:

    • 测试范围: 适用于各类双折射晶体及偏振器件的性能测试。
    • 测试项目:
      • 双折射率的测量
      • 偏振特性分析
      • 透射光谱测试
      • 热稳定性评估
    • 测试环境: 对测试条件(如温度、湿度)提出了明确要求。
    • 设备要求: 规定了测试所需仪器设备的技术指标和校准要求。
    • 数据处理: 提供了测试结果的计算公式和数据记录方式。

    与老版本的变化对比

    相比老版本,GBT 14077-1993在以下几个方面进行了改进和更新:

    • 测试精度提升: 新版引入了更高精度的测量设备和更严格的校准流程。
    • 新增测试项目: 增加了对偏振器件热稳定性的测试要求。
    • 优化测试流程: 对测试步骤进行了简化,提高了操作效率。
    • 扩展适用范围: 明确了更多类型的双折射晶体和偏振器件的适用性。
    • 增强数据可靠性: 强调了数据记录和处理的标准化,确保测试结果的可重复性和准确性。
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