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摘要:本文件规定了使用正弦激励法对振动与冲击传感器进行二次校准的方法和步骤。本文件适用于需要精确测量振动和冲击特性的传感器校准过程。
Title:Calibration Method of Vibration and Shock Sensors - Sine Excitation Method (Secondary Calibration)
中国标准分类号:O4
国际标准分类号:17.160
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拓展解读
什么是正弦激励法校准?
正弦激励法校准是一种用于振动与冲击传感器校准的技术,通过在传感器上施加正弦波激励信号来评估其性能指标。这种方法主要用于校准传感器的灵敏度、线性度及频率响应等关键参数。
为什么需要进行二次校准?
二次校准是指在初次校准的基础上,对传感器的性能进行进一步验证和调整的过程。它能够提高校准结果的准确性和可靠性,尤其是在复杂环境或长期使用后,二次校准可以检测传感器是否因老化或其他因素导致性能下降。
正弦激励法校准的主要步骤有哪些?
正弦激励法校准中常见的误解是什么?
如何选择合适的正弦波激励频率?
选择正弦波激励频率时,应考虑传感器的工作频率范围和实际应用场景。通常,应在传感器的标称频率范围内选取多个测试点,以全面评估其频率响应特性。
正弦激励法校准对环境条件有何要求?
校准环境应满足以下条件:稳定的温度(一般为20°C±5°C)、无振动干扰、无电磁干扰。此外,湿度和气压也应控制在合理范围内。
如何判断传感器是否需要二次校准?
正弦激励法校准的结果如何表示?
校准结果通常以表格或曲线的形式呈现,包括传感器的灵敏度、线性度误差、频率响应曲线等数据。这些数据可用于判断传感器是否符合标准要求。
正弦激励法校准与其他校准方法相比有何优势?