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摘要:本文件规定了硅(锂)X射线探测器系统的术语、定义、技术要求、测试方法及验收规则。本文件适用于硅(锂)X射线探测器系统的设计、生产和检测。
Title:Silicon (Lithium) X-ray Detector System
中国标准分类号:O73
国际标准分类号:17.220.20
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拓展解读
GBT 13179-1991 是中国国家标准,规定了硅(锂)X射线探测器系统的性能要求和技术指标。以下是关于此标准的常见问题及其解答。
GBT 13179-1991 主要用于规范硅(锂)X射线探测器系统的性能要求,包括探测效率、能量分辨率、响应时间等技术指标。它为制造商提供了设计和生产此类探测器的标准依据,同时也为用户提供了选择和评估探测器质量的技术参考。
硅(锂)X射线探测器具有以下核心优势:
要判断探测器是否符合 GBT 13179-1991 标准,需要进行以下测试:
硅(锂)X射线探测器通过将入射的X射线光子转化为电信号来工作。具体过程如下:
GBT 13179-1991 要求硅(锂)X射线探测器通常需要在低温环境下工作,一般为液氮冷却(约77K)。这是因为低温可以显著降低探测器的本底噪声,提高能量分辨率。
硅(锂)X射线探测器广泛应用于以下领域:
GBT 13179-1991 主要针对硅(锂)X射线探测器,不适用于其他类型的探测器(如闪烁体探测器或气体探测器)。因此,在选择探测器时需根据具体应用场景确认适用性。
为了延长探测器的使用寿命,需注意以下几点: