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    GBT 12750-1991 半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
    半导体集成电路分规范测试方法技术要求
    14 浏览2025-06-09 更新pdf1.22MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了半导体集成电路的分规范要求,包括术语、定义、分类、技术要求、测试方法等。本文件适用于半导体集成电路的设计、生产和验收。
    Title:Specification for Semiconductor Integrated Circuits (Excluding Hybrid Circuits)
    中国标准分类号:M43
    国际标准分类号:31.080

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    GBT 12750-1991 半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
  • 拓展解读

    GBT 12750-1991 半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

    该标准主要用于规范半导体集成电路的设计、制造和测试要求,适用于不包括混合电路的半导体集成电路。

    主要内容

    • 适用范围:明确指出本标准适用于半导体集成电路,但不包括混合电路。
    • 术语和定义:提供了相关术语的定义,便于理解和统一行业术语。
    • 技术要求:
      • 电气性能要求
      • 机械性能要求
      • 环境适应性要求
    • 试验方法:详细描述了如何进行各种性能测试的方法和步骤。
    • 检验规则:规定了产品的检验流程和合格判定准则。
    • 标志、包装、运输和贮存:对产品的标识、包装方式以及运输和存储条件进行了规范。

    与老版本的变化

    • 更新了术语和定义:部分术语根据行业发展进行了修订或补充。
    • 改进了技术要求:
      • 增加了对新型材料和技术应用的支持。
      • 提高了某些关键参数的精度要求。
    • 优化了试验方法:引入了更先进的测试技术和设备,以提高检测效率和准确性。
    • 强化了环保要求:新增了关于环保材料使用的相关规定。
    • 完善了标志和包装要求:增加了对可追溯性和安全性更高的包装材料的要求。
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