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资源简介
摘要：本文件规定了用带状线法测量微波介质基片复介电常数的方法和步骤。本文件适用于微波频段内介质材料复介电常数的测量，主要用于通信、雷达及微波器件设计领域。
Title：Test Method for Complex Dielectric Constant of Microwave Dielectric Substrates by Strip Line
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：31.140 -
封面预览
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拓展解读
GBT 12636-1990主要内容
GBT 12636-1990 是用于测试微波介质基片复介电常数的一种带状线测试方法的标准。该标准详细规定了如何通过带状线技术测量微波介质材料的复介电常数。
- 测试原理：利用带状线结构，在特定频率下测试材料的反射和传输特性。
- 设备要求：需要使用特定的带状线测试夹具、网络分析仪等设备。
- 样品制备：样品需满足一定的尺寸和表面质量要求。
- 数据处理：根据测试得到的S参数计算出复介电常数。
与老版本的变化
相比老版本，GBT 12636-1990 在以下几个方面进行了改进：
- 测试精度提升：引入了更精确的校准流程，减少了测量误差。
- 适用范围扩展：增加了对更高频率范围的支持，适用于更多类型的微波介质材料。
- 操作简化：优化了测试步骤，降低了操作难度。
- 标准化程度提高：明确了更多细节要求，确保不同实验室之间的测试结果具有更好的可比性。
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