• 首页
  • 查标准
  • 下载
  • 专题
  • 标签
  • 首页
  • 标准
  • 通信
  • GBT 12562-1990 PIN二极管空白详细规范

    GBT 12562-1990 PIN二极管空白详细规范
    PIN二极管半导体器件详细规范技术要求测试方法
    19 浏览2025-06-09 更新pdf0.57MB 未评分
    加入收藏
    立即下载
  • 资源简介

    摘要:本文件规定了PIN二极管的术语、定义、符号、技术要求、测试方法及标志、包装和贮存规则。本文件适用于各类电子设备中使用的PIN二极管。
    Title:GBT 12562-1990 PIN Diode Blank Detailed Specifications
    中国标准分类号:M73
    国际标准分类号:31.080.30

  • 封面预览

    GBT 12562-1990 PIN二极管空白详细规范
  • 拓展解读

    GBT 12562-1990 PIN二极管空白详细规范

    以下是关于 GBT 12562-1990 PIN二极管空白详细规范 的主要内容总结及其与老版本的对比。

    主要内容总结

    • 适用范围: 该规范适用于PIN二极管的设计、制造和测试,确保其性能符合特定的技术要求。
    • 技术指标: 包括正向电压、反向电压、最大电流等关键参数的具体数值要求。
    • 测试方法: 明确了如何进行各项性能测试,如正向特性测试、反向恢复时间测试等。
    • 质量控制: 对生产过程中的质量控制提出了具体要求,包括原材料检验、生产工艺监控等。

    与老版本的变化对比

    • 技术指标更新: 新版本对正向电压和反向电压的要求更加严格,提高了产品的可靠性。
    • 测试方法改进: 引入了更先进的测试设备和技术,提高了测试结果的准确性和一致性。
    • 材料要求变化: 对原材料的纯度和稳定性提出了更高的要求,以确保产品性能的长期稳定。
    • 环保要求: 增加了对环保材料的使用要求,符合现代绿色生产的趋势。
  • 下载说明

    预览图若存在模糊、缺失、乱码、空白等现象,仅为图片呈现问题,不影响文档的下载及阅读体验。

    当文档总页数显著少于常规篇幅时,建议审慎下载。

    资源简介仅为单方陈述,其信息维度可能存在局限,供参考时需结合实际情况综合研判。

    如遇下载中断、文件损坏或链接失效,可提交错误报告,客服将予以及时处理。

  • 相关资源
    下一篇 GBT 12563-1990 国内卫星通信地球站地面接口要求

    GBT 12564-1990 光电倍增管总规范 (可供认证用)

    GBT 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)

    GBT 12567-1990 直观存储管测试方法

    GBT 12569-1990 直观存储管空白详细规范

资源简介
封面预览
拓展解读
下载说明
相关资源
  • 帮助中心
  • 网站地图
  • 联系我们
2024-2025 WenDangJia.com 浙ICP备2024137650号-1