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摘要:本文件规定了光学和光学仪器进行低压与大气温度、高温综合试验的方法、要求及评定准则。本文件适用于光学和光学仪器在模拟低压环境下的性能测试与评估。
Title:Optics and optical instruments - Environmental test methods - Part 21: Low pressure combined with ambient temperature and high temperature test
中国标准分类号:J33
国际标准分类号:17.140
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拓展解读
GBT 12085.21-2011 是一项关于光学和光学仪器环境试验的标准,主要涉及低压与高低温综合试验。以下是针对该标准的常见问题解答。
该标准适用于光学和光学仪器在低压与高低温综合环境下的适应性和可靠性测试。它主要用于评估产品在极端环境条件下的性能表现,包括高空低压环境和高温条件。
低压与高低温综合试验是指将光学和光学仪器置于一个同时具有低压和高低温环境的试验箱中进行测试。这种试验模拟了产品在高空飞行或太空环境中的实际工作条件。
低压与高低温综合试验能够帮助制造商发现产品在恶劣环境下的潜在缺陷,确保其在实际应用中的可靠性和安全性。例如,某些光学元件可能在低压环境下出现密封失效或材料老化等问题。
虽然低压与高低温综合试验通常是结合进行的,但在某些情况下,也可以单独进行低压或高低温试验。不过,单独试验的结果可能无法全面反映产品在真实环境中的表现。
试验结果的判定依据是产品在试验后是否满足设计要求,包括外观完整性、功能正常性以及性能指标的稳定性。如果产品在试验后仍能正常工作,则视为合格。
该标准适用于大多数光学和光学仪器,但对于特殊用途的产品(如深海设备),可能需要额外的补充试验。因此,在具体应用时需结合产品特点和实际需求进行调整。
试验周期的选择取决于产品的设计目标和预期使用环境。一般来说,试验周期越长,对产品的耐久性要求越高。建议根据实际应用场景和客户需求来确定。
试验失败后,应首先分析失败原因,可能是设计缺陷、材料问题或工艺问题。然后针对性地改进设计或优化制造流程,重新进行试验直至合格。