GBT 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

GBT 11685-2003主要内容

GBT 11685-2003《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》规定了半导体X射线探测器系统的性能测试方法，包括探测效率、能量分辨率、线性度等关键参数的测量步骤和要求。标准适用于半导体X射线探测器及其相关能谱仪的生产、检测和应用。

• 探测效率测量：通过标准放射源和几何校正计算探测器的相对探测效率。
• 能量分辨率测试：使用单能X射线源评估探测器的能量分辨率。
• 线性度验证：通过不同强度的X射线源检查探测器输出信号的线性响应。
• 温度影响分析：研究温度变化对探测器性能的影响。

与老版本的变化

相比老版本，GBT 11685-2003在以下几个方面进行了更新：

• 更精确的测量方法：引入了更高精度的仪器和校准流程。
• 新增内容：
  • 增加了对新型半导体材料（如硅漂移探测器）的支持。
  • 补充了低温环境下的性能测试要求。
• 改进的测试流程：优化了部分测试步骤，提高了操作的可重复性和准确性。
• 扩展的应用场景：涵盖了更多工业和科研领域的具体应用场景。