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资源简介
摘要：本文件规定了电子元器件结构陶瓷材料的气密性测试方法。本文件适用于评估和检测电子元器件中使用的结构陶瓷材料的气密性性能。
Title：Performance Test Methods for Structural Ceramic Materials of Electronic Components - Gas Tightness Test Method
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：25.160 -
封面预览
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拓展解读
GB 5594.1-1985主要内容
GB 5594.1-1985规定了电子元器件结构陶瓷材料气密性测试的方法和要求，用于评估陶瓷材料在实际应用中的密封性能。该标准适用于陶瓷封装材料的气密性检测。
- 测试原理：通过测量材料在特定条件下的气体渗透率来判断其气密性。
- 测试设备：包括真空系统、气体流量计等。
- 测试条件：需在规定的温度、压力和时间条件下进行。
- 结果判定：根据气体泄漏量是否符合要求来判定材料是否合格。
与老版本的变化
由于老版本的标准信息未明确提供，以下为可能的变化假设：
- 测试精度提升：新版本可能对测试设备的精度提出了更高的要求。
- 环境条件优化：可能调整了测试温度、压力等参数以更贴近实际使用环境。
- 操作流程简化：新版本可能对测试步骤进行了优化，使其更加简便易行。
- 适用范围扩展：可能增加了更多类型的陶瓷材料适用范围。
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