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  • YST 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO下标 2、Fe下标 2O下标 3、Na下标 2O含量

    YST 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO下标 2、Fe下标 2O下标 3、Na下标 2O含量
    氢氧化铝X射线荧光光谱法SiO2Fe2O3Na2O
    20 浏览2025-06-10 更新pdf0.11MB 未评分
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    摘要:本文件规定了用X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的方法。本文件适用于氢氧化铝中上述成分的定量分析。
    Title:Determination of SiO2, Fe2O3 and Na2O in aluminum hydroxide by X-ray fluorescence spectrometry
    中国标准分类号:H61
    国际标准分类号:71.040.50

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    YST 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO下标 2、Fe下标 2O下标 3、Na下标 2O含量
  • 拓展解读

    总结内容

    YST 702-2009 标准规定了利用X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3和Na2O含量的方法。该方法适用于工业生产中对氢氧化铝成分的快速检测。

    对比变化

    • 检测精度提升:新标准采用了更高灵敏度的仪器,显著提高了测量结果的准确性。
    • 样品前处理优化:与旧版相比,YST 702-2009改进了样品制备流程,减少了人为误差。
    • 适用范围扩展:新标准增加了对更多种类氢氧化铝样品的支持,适应性更强。
    • 操作步骤简化:通过标准化操作流程,降低了实验人员的技术门槛。
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