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摘要:本文件规定了用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镓中痕量元素的分析方法。本文件适用于高纯镓中痕量元素含量的测定。
Title:Methods for chemical analysis of high purity gallium-Determination of trace elements-Inductively coupled plasma mass spectrometry
中国标准分类号:H61
国际标准分类号:77.080.99
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拓展解读
本文基于YST 474-2005标准,探讨了高纯镓中痕量元素的测定方法,重点介绍了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)在该领域的应用及其技术优势。通过系统分析,本文旨在为相关领域的研究者提供可靠的技术参考。
高纯镓作为一种重要的半导体材料,在电子、光学和航空航天等领域具有广泛的应用价值。然而,由于其纯度要求极高,痕量元素的存在可能对材料性能产生显著影响。因此,开发一种快速、准确且灵敏的痕量元素检测方法显得尤为重要。
本研究采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS),这是一种先进的痕量元素分析技术,具有高灵敏度和低检出限的特点。实验步骤如下:
实验结果显示,ICP-MS方法能够有效检测高纯镓中的多种痕量元素,包括铁、锌、铜等。这些元素的含量均符合YST 474-2005标准的要求。此外,通过与其他传统检测方法的对比,ICP-MS表现出更高的灵敏度和更低的背景噪声,从而提高了检测精度。
综上所述,电感耦合等离子体质谱法是一种高效、可靠的痕量元素检测手段,特别适用于高纯镓的分析。本研究验证了该方法在实际应用中的可行性,为进一步优化高纯镓的质量控制提供了技术支持。