YST 426.5-2000 锑铍芯块化学分析方法.电感耦合等离子体发射光谱法测定硅量

YST 426.5-2000主要内容

该标准规定了使用电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定锑铍芯块中硅含量的方法。以下是主要步骤和要求：

• 样品制备：需要将样品进行适当的前处理，确保能够准确测量。
• 仪器校准：使用标准溶液对仪器进行校准，以确保测量的准确性。
• 测定过程：通过ICP-OES技术检测样品中的硅含量，并记录数据。
• 结果计算：根据测量值计算硅的含量，并按照标准要求报告结果。

与老版本的变化

相比老版本，YST 426.5-2000在以下几个方面进行了改进和优化：

• 样品制备：新版本提供了更详细的样品前处理步骤，以减少误差。
• 校准方法：更新了校准曲线的制作流程，提高了测量精度。
• 检测灵敏度：改进了ICP-OES的检测条件，增强了对低浓度硅的检测能力。
• 数据处理：增加了对异常数据的处理说明，确保结果的可靠性。