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资源简介
摘要：本文件规定了用感应耦合等离子体发射光谱法测定锑铍芯块中硅含量的方法。本文件适用于锑铍芯块中硅含量的测定，测定范围一般为0.01%至5.0%。
Title：Chemical Analysis Method for Antimony Beryllium Pellets - Determination of Silicon Content by Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy
中国标准分类号：H22
国际标准分类号：71.040.50 -
封面预览
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拓展解读
YST 426.5-2000主要内容
该标准规定了使用电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定锑铍芯块中硅含量的方法。以下是主要步骤和要求：
- 样品制备：需要将样品进行适当的前处理，确保能够准确测量。
- 仪器校准：使用标准溶液对仪器进行校准，以确保测量的准确性。
- 测定过程：通过ICP-OES技术检测样品中的硅含量，并记录数据。
- 结果计算：根据测量值计算硅的含量，并按照标准要求报告结果。
与老版本的变化
相比老版本，YST 426.5-2000在以下几个方面进行了改进和优化：
- 样品制备：新版本提供了更详细的样品前处理步骤，以减少误差。
- 校准方法：更新了校准曲线的制作流程，提高了测量精度。
- 检测灵敏度：改进了ICP-OES的检测条件，增强了对低浓度硅的检测能力。
- 数据处理：增加了对异常数据的处理说明，确保结果的可靠性。
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