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  • YST 38.2-2009 高纯镓化学分析方法.第2部分:镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定.电感耦合等离子体质谱法

    YST 38.2-2009 高纯镓化学分析方法.第2部分:镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定.电感耦合等离子体质谱法
    高纯镓化学分析电感耦合等离子体质谱法镁钛铬锰镍钴铜锌镉锡铅铋
    18 浏览2025-06-10 更新pdf0.16MB 未评分
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    摘要:本文件规定了用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镓中镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋含量的方法。本文件适用于高纯镓中上述元素的定量分析,质量分数范围一般为0.000 01%~0.01%。
    Title:Methods for chemical analysis of high purity gallium - Part 2: Determination of magnesium, titanium, chromium, manganese, nickel, cobalt, copper, zinc, cadmium, tin, lead and bismuth content - Inductively coupled plasma mass spectrometry
    中国标准分类号:H65
    国际标准分类号:77.040.30

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    YST 38.2-2009 高纯镓化学分析方法.第2部分:镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定.电感耦合等离子体质谱法
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    FAQ列表

    以下是关于“YST 38.2-2009 高纯镓化学分析方法 第2部分:镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法”的常见问题解答。

    1. YST 38.2-2009 标准的主要用途是什么?

    回答: YST 38.2-2009 是中国国家标准,主要用于规范高纯镓中多种金属元素(如镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋)的测定方法。该标准采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS),为高纯镓的质量控制提供了科学依据。

    2. 什么是电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)?

    回答: ICP-MS 是一种先进的分析技术,通过将样品引入高温等离子体中进行原子化和离子化,然后利用质谱仪检测不同元素的特征质量数,从而实现对元素种类和含量的精确测定。这种方法具有灵敏度高、检测范围广的特点。

    3. 为什么选择 ICP-MS 方法来测定高纯镓中的微量元素?

    回答: 高纯镓对杂质含量要求极高,而 ICP-MS 方法具有以下优势:

    • 灵敏度高,能够检测痕量甚至超痕量的元素。
    • 检测速度快,适合大批量样品分析。
    • 多元素同时测定能力,可一次性检测多种金属元素。
    • 结果准确可靠,适用于高纯材料的质量控制。

    4. 在实际操作中,如何保证 ICP-MS 分析的准确性?

    回答: 为了保证分析结果的准确性,需要采取以下措施:

    • 严格控制样品前处理过程,避免污染。
    • 定期校准仪器,使用标准参考物质进行验证。
    • 选择合适的内标元素,消除基体效应带来的干扰。
    • 优化仪器参数(如射频功率、载气流量等),以获得最佳信号响应。

    5. YST 38.2-2009 中涉及哪些常见的金属元素?

    回答: YST 38.2-2009 主要涉及以下金属元素:

    • 镁 (Mg)
    • 钛 (Ti)
    • 铬 (Cr)
    • 锰 (Mn)
    • 镍 (Ni)
    • 钴 (Co)
    • 铜 (Cu)
    • 锌 (Zn)
    • 镉 (Cd)
    • 锡 (Sn)
    • 铅 (Pb)
    • 铋 (Bi)
    这些元素在高纯镓中可能作为杂质存在,需要严格控制其含量。

    6. 如果没有标准参考物质,是否可以使用替代品进行校准?

    回答: 不建议直接使用替代品进行校准。标准参考物质是经过权威机构认证的,具有已知准确含量的样品,能够提供可靠的校准数据。如果没有标准参考物质,可以考虑使用其他已知浓度的标准溶液,但需经过验证并记录偏差来源。

    7. 如何判断 ICP-MS 测定结果是否合格?

    回答: 判断结果是否合格需要结合以下因素:

    • 与标准限值对比:结果应在规定的杂质限量范围内。
    • 重复性测试:多次测量的结果应一致,满足重复性要求。
    • 方法检出限:测定值应高于方法的检出限。
    • 不确定度评估:综合考虑仪器误差、样品前处理误差等因素。

    8. ICP-MS 分析中常见的干扰有哪些?

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