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资源简介
摘要：本文件规定了用钼蓝分光光度法测定高纯二氧化锗中硅含量的分析方法。本文件适用于高纯二氧化锗中微量硅含量的测定。
Title：Methods for chemical analysis of high purity germanium dioxide - Determination of silicon content by molybdenum blue spectrophotometric method
中国标准分类号：H41
国际标准分类号：71.060 -
封面预览
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拓展解读
YST 37.2-1992主要内容
该标准规定了采用钼蓝分光光度法测定高纯二氧化锗中硅含量的具体步骤和要求。主要涉及样品的制备、试剂的使用、测量条件以及结果计算等内容。
对比老版本的变化
- 样品处理: 新版对样品前处理过程进行了优化，提高了检测的准确性和重复性。
- 试剂改进: 使用了更高纯度的试剂，减少了杂质干扰，提升了测量精度。
- 仪器更新: 引入了更先进的分光光度计，增强了测量灵敏度和数据可靠性。
- 操作流程: 对操作步骤进行了简化和标准化，便于实际操作和质量控制。
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