YST 364-2006 纯铱中杂质元素的发射光谱分析

YST 364-2006 纯铱中杂质元素的发射光谱分析

YST 364-2006 是一项关于纯铱中杂质元素通过发射光谱进行分析的标准。该标准详细规定了分析方法、仪器要求以及操作步骤，旨在确保检测结果的准确性和可靠性。

主要内容

• 适用范围: 本标准适用于纯铱材料中杂质元素的定性及定量分析。
• 分析原理: 利用发射光谱技术，通过测量不同元素特征波长的光强度来确定杂质成分。
• 仪器要求: 需要高精度的光谱仪，并配备适当的激发源和检测器。
• 样品制备: 样品需经过严格处理以确保分析结果的准确性。
• 数据处理: 使用标准化的方法对光谱数据进行校准和分析。

与老版本的变化

• 检测灵敏度提升: 新版标准引入了更先进的光谱仪技术，提高了对低浓度杂质元素的检测能力。
• 操作流程优化: 对样品制备和数据分析步骤进行了简化，提高了操作效率。
• 参考标准更新: 更新了部分参考标准值，以适应最新的行业需求和技术发展。
• 安全性增强: 增加了对操作人员的安全提示，强调了实验过程中的注意事项。