YDT 1690.4-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz~1GHz)第4部分：传导发射测量 1Ω150Ω直接耦合方法

引言

随着信息技术的飞速发展，电信设备在现代社会中的应用越来越广泛。然而，这些设备在运行过程中可能会产生电磁干扰（EMI），对其他电子设备造成不良影响。为了规范电信设备的电磁兼容性（EMC）性能，我国制定了标准 YDT 1690.4-2007，其中第4部分详细规定了电信设备内部传导发射的测量方法，特别是1Ω/150Ω直接耦合方法。

标准概述

YDT 1690.4-2007 是一项重要的电信设备电磁兼容性测试标准，其目的是确保设备在正常工作时不会对其他设备产生过大的电磁干扰。该标准涵盖了从150kHz到1GHz频段内的传导发射测量，为设备制造商提供了明确的技术要求和测量方法。

测量方法

本标准中提到的1Ω/150Ω直接耦合方法是一种常用的传导发射测量技术。这种方法通过模拟实际工作环境下的信号传输路径，来评估设备产生的电磁干扰水平。

• 1Ω直接耦合方法： 此方法适用于低阻抗源的情况，能够有效地捕捉设备在低频段的传导发射特性。
• 150Ω直接耦合方法： 这种方法更适合高阻抗源的场景，可以更准确地反映设备在高频段的传导发射情况。

技术要求

根据标准的要求，设备制造商需要按照以下步骤进行传导发射测量：

• 选择合适的测量仪器和设备，确保其符合标准规定的精度要求。
• 设置正确的测量环境，包括屏蔽室或暗室，以减少外部干扰。
• 按照1Ω/150Ω直接耦合方法连接测试设备，并记录测量数据。
• 分析测量结果，判断是否符合标准规定的限值要求。

结论

综上所述，YDT 1690.4-2007 第4部分为电信设备的传导发射测量提供了科学、严谨的方法和技术要求。采用1Ω/150Ω直接耦合方法能够有效评估设备的电磁兼容性，从而保障设备在复杂电磁环境中的稳定运行。这一标准对于推动电信行业的发展具有重要意义。