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    YBT 172-2000 硅砖定量相分析.X射线衍射法
    硅砖定量相分析X射线衍射法物相分析陶瓷材料
    16 浏览2025-06-10 更新pdf0.13MB 未评分
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    摘要:本文件规定了用X射线衍射法对硅砖进行定量相分析的方法、步骤和结果计算。本文件适用于硅砖中各晶相含量的测定。
    Title:Quantitative Phase Analysis of Silica Bricks by X-ray Diffraction Method
    中国标准分类号:Y41
    国际标准分类号:71.060

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    YBT 172-2000 硅砖定量相分析.X射线衍射法
  • 拓展解读

    YBT 172-2000 硅砖定量相分析.X射线衍射法

    该标准规定了采用X射线衍射法对硅砖进行定量相分析的方法,用于确定硅砖中各矿物相的含量。

    主要内容

    • 适用范围: 适用于以石英为主要成分的硅砖,包括半硅砖和高硅砖。
    • 原理: 利用X射线衍射技术,通过测量不同矿物相的衍射强度来计算各相的相对含量。
    • 样品制备: 要求样品具有代表性,并经过适当的研磨处理以确保均匀性。
    • 仪器要求: 使用符合国际标准的X射线衍射仪,并需校准以保证数据准确性。
    • 数据分析: 根据内标法或外标法计算各相的含量,并记录结果。

    与老版本的变化

    • 更精确的测量方法: 新版标准引入了更高精度的X射线衍射仪,提高了测量的准确性和重复性。
    • 优化的样品制备流程: 对样品的研磨和均匀性提出了更高的要求,以减少误差。
    • 扩展的应用范围: 增加了对半硅砖和高硅砖的适用性,扩大了标准的覆盖范围。
    • 增强的数据处理能力: 引入了现代化的数据分析软件,简化了数据处理过程并提升了效率。
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