SJZ 9154.2-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法

主要内容

该标准规定了使用π型网络和零相位法来测量石英晶体元件参数的具体方法，特别是通过相位偏置法来测量石英晶体元件的动态电容。

• 测量原理：利用π型网络构建等效电路，并通过调整相位至零点来准确测量石英晶体元件的动态电容。
• 适用范围：适用于各类石英晶体元件的动态电容测量，确保测量结果的精确性和一致性。
• 设备要求：需要高精度的测量仪器和稳定的测试环境，以减少外界干扰对测量结果的影响。

与老版本的变化

相比老版本，新标准在以下几个方面进行了改进和优化：

• 测量精度提升：引入更先进的π型网络设计，提高了测量的准确度。
• 操作简化：优化了相位调整步骤，使得操作更加简便，减少了人为误差。
• 适用性增强：扩大了适用的石英晶体元件类型，增加了对新型号的支持。
• 标准化流程：明确了更多的技术细节和测试条件，确保不同实验室之间的数据具有可比性。