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资源简介
摘要：本文件规定了半导体分立器件的质量分等原则、技术要求、检测方法及标志包装等内容。本文件适用于半导体分立器件的质量评定与分级。
Title：Quality Grading Standard for Semiconductor Discrete Devices
中国标准分类号：M61
国际标准分类号：31.080 -
封面预览
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拓展解读
主要内容
SJT 9533-1993《半导体分立器件质量分等标准》主要规定了半导体分立器件的质量分级标准，包括以下几个方面：
- 分类：将半导体分立器件分为不同的质量等级，以满足不同应用场景的需求。
- 性能指标：详细列出了各类器件的性能要求，如电气参数、环境适应性等。
- 测试方法：明确了各类器件的测试方法和验收准则。
- 标志与包装：对器件的标志、包装及存储提出了具体要求。
与老版本的变化
相比老版本，SJT 9533-1993在以下方面进行了更新和改进：
- 更严格的性能要求：提高了部分器件的性能指标，以适应更高技术需求的应用场景。
- 新增内容：增加了部分新型半导体分立器件的质量分级标准。
- 优化测试方法：对原有的测试方法进行了优化，使其更加科学合理。
- 强化环保要求：增加了关于环保材料使用的相关规定，符合当时国际环保趋势。
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