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摘要:本文件规定了使用开放式半球型谐振腔法对毫米波频段材料介电性能进行测试的方法,包括测试设备、样品制备、测试步骤和数据处理。本文件适用于毫米波频段内材料的介电常数和损耗因子的测量。
Title:Test Method for Dielectric Properties of Materials in Millimeter Wave Band - Open Hemispherical Resonator Method
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:33.100
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拓展解读
在TCSTM 00750-2022《毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法》中,有一项重要的改动是关于样品制备与测量环境的要求。相较于旧版标准,新版对样品表面粗糙度和测试环境温湿度条件的规定更加严格。这一变化直接关系到测试结果的准确性和可靠性。
以样品表面粗糙度为例,旧版标准仅要求样品表面光滑即可,但新版明确规定样品表面粗糙度Ra值不得超过0.1μm。这意味着在实际操作过程中,不仅需要选用高精度加工设备来制作样品,还需要采用合适的抛光工艺确保表面质量达标。此外,对于某些特殊材料可能还需采取额外防护措施防止污染或损伤。
为了更好地理解并正确执行这项规定,在具体实施时应注意以下几点:首先,在选择加工方式时应综合考虑材料特性及加工成本;其次,在完成初步加工后需仔细检查表面状态,并根据需要进行进一步打磨处理直至符合要求;最后,在整个制备流程中必须保持清洁工作环境避免引入杂质影响最终效果。
同时,新版标准还强调了测试环境的重要性。它指出当相对湿度超过70%或者温度波动大于±2℃/h时都将对测量结果产生不利影响。因此,在实际应用中除了要配备精确控温装置外还需定期校准温湿度计确保数据准确性。另外,考虑到不同实验室之间可能存在差异性建议建立统一数据库记录每次实验条件以便日后对比分析。
通过以上分析可以看出,虽然看似简单的一条新旧版本间的变化实际上蕴含着诸多细节考量。只有全面理解和严格执行这些要求才能保证毫米波频段材料介电性能测试结果具有科学性和可重复性。