GBT 18735-2014 微束分析 分析电镜(AEMEDS)纳米薄标样通用规范

GBT 18735-2014 主要内容

该标准规定了用于分析电镜（AEM）的纳米薄标样的通用技术要求和测试方法。主要内容包括：

• 范围：适用于分析电镜中使用的纳米薄标样。
• 术语和定义：明确了相关术语的定义，例如“纳米薄标样”、“分辨率”等。
• 技术要求：
  • 材料成分要求。
  • 尺寸和厚度要求。
  • 表面质量和均匀性要求。
• 测试方法：详细描述了如何测量和验证标样的各项性能指标。
• 检验规则：规定了验收、抽样和检测的具体流程。
• 标志、包装、运输和贮存：对产品的标识和物流环节提出了具体要求。

与老版本的变化

相比旧版标准，新版的主要变化体现在以下几个方面：

• 更新了术语和定义：引入了一些新的专业术语，并对已有术语进行了修订以更符合当前技术发展。
• 提高了精度要求：在材料成分和尺寸精度上提出了更高的标准，以适应更高分辨率的分析需求。
• 增加了测试方法：新增了几种先进的测试方法，如电子衍射和能谱分析。
• 优化了检验规则：改进了验收和抽样流程，增强了操作的科学性和可执行性。
• 强化了环境要求：对包装和运输过程中的环境条件提出了更严格的要求，以保护标样的质量。