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资源简介
摘要：本文件规定了在全电波暗室中进行辐射发射和抗扰度测量的试验方法和技术要求，包括测试环境、设备配置和操作步骤。本文件适用于电子产品和系统的电磁兼容性测试与评估。
Title：Electromagnetic compatibility - Test and measurement techniques - Radiated emission and immunity measurements in anechoic chambers
中国标准分类号：L72
国际标准分类号：33.100 -
封面预览
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拓展解读
GBT 17626.22-2017 主要内容
GBT 17626.22-2017《电磁兼容 试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量》规定了在全电波暗室中进行辐射发射和抗扰度测量的技术要求和方法。本标准适用于评估设备或系统的电磁兼容性。
- 适用范围：适用于全电波暗室环境下的辐射发射和抗扰度测试。
- 测量对象：包括但不限于电子设备、通信设备和其他需要进行电磁兼容性评估的系统。
- 测量方法：
- 详细描述了全电波暗室的设置要求。
- 明确了辐射发射和抗扰度测量的具体步骤和数据处理方法。
与老版本的变化
相比老版本，GBT 17626.22-2017 在以下几个方面进行了更新和改进：
- 测试环境：
- 对全电波暗室的屏蔽性能提出了更高的要求。
- 增加了对暗室内反射信号的控制措施。
- 测量精度：
- 优化了测量仪器的校准流程。
- 提高了辐射发射和抗扰度测量的准确性和重复性。
- 适用范围：
- 扩展了适用的设备类型和频率范围。
- 增加了对新型电子设备的支持。
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