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  • GBT 17574.20-2006 半导体器件集成电路 笫2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范

    GBT 17574.20-2006 半导体器件集成电路 笫2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范
    半导体器件数字集成电路低压集成电路规范技术要求
    15 浏览2025-06-11 更新pdf0.31MB 未评分
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  • 资源简介

    摘要:本文件规定了数字集成电路中低压集成电路的技术要求、试验方法及质量评定程序。本文件适用于数字集成电路中低压集成电路的设计、生产和验收。
    Title:Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Specifications for low voltage integrated circuit families
    中国标准分类号:M53
    国际标准分类号:31.140

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    GBT 17574.20-2006 半导体器件集成电路 笫2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范
  • 拓展解读

    GBT 17574.20-2006 主要内容

    该标准规定了低压集成电路族的规范,适用于半导体器件中的数字集成电路。主要内容包括:

    • 低压集成电路的电气特性要求
    • 测试条件和方法
    • 符号和定义
    • 可靠性要求
    • 包装和标识规范

    与老版本的变化

    相比老版本,GBT 17574.20-2006 的主要变化体现在以下几个方面:

    • 电气特性更新:增加了对更低电压工作范围的支持。
    • 测试条件优化:引入了更严格的测试环境要求。
    • 新增可靠性要求:增加了对长期稳定性的评估指标。
    • 包装改进:明确了环保材料的使用要求。
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