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    GBT 17518-2012 化工产品中硅含量测定的通用方法.还原硅钼酸盐分光光度法
    硅含量测定还原硅钼酸盐分光光度法化工产品
    15 浏览2025-06-11 更新pdf0.37MB 未评分
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    摘要:本文件规定了用还原硅钼酸盐分光光度法测定化工产品中硅含量的通用方法。本文件适用于化工产品中微量硅含量的测定。
    Title:General methods for determination of silicon content in chemical products - Spectrophotometric method using reducible silicomolybdate
    中国标准分类号:G12
    国际标准分类号:71.040.50

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    GBT 17518-2012 化工产品中硅含量测定的通用方法.还原硅钼酸盐分光光度法
  • 拓展解读

    GBT 17518-2012标准概述

    GBT 17518-2012是中国国家标准化管理委员会发布的关于化工产品中硅含量测定的通用方法的标准文件。该标准主要规定了通过还原硅钼酸盐分光光度法来测定化工产品中硅含量的具体操作流程和检测要求。这一方法的核心在于利用化学反应生成硅钼酸盐复合物,并通过分光光度计测量其吸光度,从而定量分析样品中的硅含量。

    还原硅钼酸盐分光光度法的原理

    强酸性条件下,样品中的硅酸根离子与钼酸铵发生反应,形成黄色的硅钼杂多酸。随后,在还原剂(如抗坏血酸)的作用下,这种杂多酸被还原为硅钼蓝,其颜色深浅与硅含量成正比。通过分光光度计测量特定波长下的吸光度,可以计算出样品中硅的浓度。

    • 关键试剂:钼酸铵、硫酸、抗坏血酸等。
    • 核心仪器:分光光度计。
    • 实验条件:酸度、温度和时间对结果影响显著。

    实际应用与案例分析

    该方法广泛应用于化工、冶金、环保等领域,尤其在高纯硅材料的质量控制中具有重要价值。例如,在光伏产业中,高纯硅是生产太阳能电池的关键原料,其硅含量的精确测定直接影响产品的性能和成本。某光伏企业曾采用GB/T 17518-2012标准,对其生产的多晶硅样品进行检测,结果显示硅含量稳定在99.99%以上,符合国际先进水平。

    • 优势:操作简便、灵敏度高、重复性好。
    • 挑战:需严格控制实验条件以避免误差。

    与其他检测方法的比较

    尽管原子吸收光谱法和电感耦合等离子体发射光谱法也是常用的硅含量检测手段,但它们对设备要求较高,且成本昂贵。相比之下,GB/T 17518-2012所规定的还原硅钼酸盐分光光度法更适合中小型企业的日常检测需求,同时也能满足大部分工业生产中的质量监控要求。

    • 经济性:试剂易得,设备简单。
    • 适用性:适用于多种基质样品。

    综上所述,GB/T 17518-2012标准不仅为化工行业提供了科学可靠的检测依据,还推动了相关领域的技术进步和质量提升。未来,随着检测技术的不断优化,该方法有望在更多领域发挥更大的作用。

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