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摘要:本文件规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测定方法。本文件适用于贵金属浆料的质量控制和性能评估。
Title:Test Methods for Precious Metal Pastes Used in Thick Film Microelectronics Technology - Determination of Solid Content
中国标准分类号:L80
国际标准分类号:25.160.30
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拓展解读
什么是 GBT 17473.1-1998 标准?
GBT 17473.1-1998 是中国国家标准,规定了用于厚膜微电子技术的贵金属浆料中固体含量测定的方法。此标准为确保贵金属浆料的质量提供了统一的技术依据。
为什么需要测定贵金属浆料中的固体含量?
固体含量是衡量贵金属浆料性能的重要指标之一。过高或过低的固体含量都会影响浆料的粘度、涂覆均匀性及最终产品的电学性能。因此,准确测定固体含量对于产品质量控制至关重要。
如何进行固体含量测定?
根据 GBT 17473.1-1998 的要求,固体含量测定的基本步骤如下:
固体含量测定过程中需要注意哪些事项?
在进行固体含量测定的过程中,需要注意以下几点:
固体含量测定的结果是否可以直接用于所有类型的贵金属浆料?
不一定。不同种类的贵金属浆料可能对固体含量的要求不同,因此需要结合具体应用场景和产品规格来判断测定结果的有效性。例如,某些特殊用途的浆料可能需要更高的固体含量。
如果测定结果超出标准范围,应该如何处理?
如果测定结果显示固体含量超出标准范围,则需要采取以下措施:
是否有其他替代方法可以测定固体含量?
目前,GBT 17473.1-1998 规定的方法是最权威的标准方法。虽然可能存在一些实验室自行开发的方法,但这些方法未经验证,不能作为正式的质量控制依据。