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    GBT 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
    贵金属浆料厚膜微电子技术固体含量测定方法测试标准
    21 浏览2025-06-11 更新pdf0.25MB 未评分
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    摘要:本文件规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测定方法。本文件适用于贵金属浆料的质量控制和性能评估。
    Title:Test Methods for Precious Metal Pastes Used in Thick Film Microelectronics Technology - Determination of Solid Content
    中国标准分类号:L80
    国际标准分类号:25.160.30

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    GBT 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
  • 拓展解读

    GBT 17473.1-1998 常见问题解答

    什么是 GBT 17473.1-1998 标准?

    GBT 17473.1-1998 是中国国家标准,规定了用于厚膜微电子技术的贵金属浆料中固体含量测定的方法。此标准为确保贵金属浆料的质量提供了统一的技术依据。

    为什么需要测定贵金属浆料中的固体含量?

    固体含量是衡量贵金属浆料性能的重要指标之一。过高或过低的固体含量都会影响浆料的粘度、涂覆均匀性及最终产品的电学性能。因此,准确测定固体含量对于产品质量控制至关重要。

    如何进行固体含量测定?

    根据 GBT 17473.1-1998 的要求,固体含量测定的基本步骤如下:

    • 称取一定量的样品并记录初始质量。
    • 将样品置于烘箱中,在规定的温度(通常为105℃)下干燥至恒重。
    • 冷却后再次称量样品质量。
    • 通过公式计算固体含量:固体含量 = (干燥后质量 / 初始质量) × 100%。

    固体含量测定过程中需要注意哪些事项?

    在进行固体含量测定的过程中,需要注意以下几点:

    • 样品应充分混合均匀,以确保测量结果具有代表性。
    • 烘箱温度和时间需严格按照标准规定执行,避免因温度过高导致样品分解。
    • 称量时应使用精确的天平,并注意避免外界干扰(如湿度变化)。
    • 干燥后的样品需在干燥器中冷却至室温后再称量。

    固体含量测定的结果是否可以直接用于所有类型的贵金属浆料?

    不一定。不同种类的贵金属浆料可能对固体含量的要求不同,因此需要结合具体应用场景和产品规格来判断测定结果的有效性。例如,某些特殊用途的浆料可能需要更高的固体含量。

    如果测定结果超出标准范围,应该如何处理?

    如果测定结果显示固体含量超出标准范围,则需要采取以下措施:

    • 检查生产过程是否存在异常,如原料配比错误或工艺参数不当。
    • 重新调整配方或生产工艺,确保后续批次符合标准要求。
    • 对不合格产品进行隔离并评估其潜在影响。

    是否有其他替代方法可以测定固体含量?

    目前,GBT 17473.1-1998 规定的方法是最权威的标准方法。虽然可能存在一些实验室自行开发的方法,但这些方法未经验证,不能作为正式的质量控制依据。

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