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摘要:本文件规定了用发射光谱法测定钨中杂质元素的分析方法。本文件适用于钨及其合金中杂质元素含量的测定。
Title:Tungsten - Spectrochemical Analysis Methods
中国标准分类号:H61
国际标准分类号:77.080
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拓展解读
GBT 16600-1996 是一项关于钨的发射光谱分析的标准,广泛应用于冶金、材料科学等领域。以下是与该标准相关的常见问题及其解答。
GBT 16600-1996 是用于测定钨及其合金中元素含量的一种发射光谱分析方法。它通过检测钨样品在高温激发下产生的光谱线强度,来定量分析样品中的各种元素成分。
发射光谱分析是一种利用物质在高温或电弧激发下产生特征光谱的技术。当钨样品被激发时,其原子会释放特定波长的光,通过光谱仪分析这些光谱线,可以确定样品中元素的种类和含量。
样品制备是分析的关键步骤之一。具体要求如下:
为了获得准确的光谱数据,样品的激发条件非常重要:
GBT 16600-1996 主要适用于纯钨及钨合金的分析。但对于某些特殊类型的钨样品(如含有极高杂质浓度的样品),可能需要额外的前处理步骤或采用其他分析方法。
为了减少误差,需要注意以下几点:
GBT 16600-1996 发布于1996年,虽然至今仍被广泛使用,但随着技术的进步,可能需要参考更先进的标准或方法。建议用户根据实际需求选择适合的分析手段。
如果没有光谱仪,可以考虑使用化学分析法(如湿法化学分析)或X射线荧光光谱法(XRF)。但这些方法的精度和效率可能低于发射光谱分析。
GBT 16600-1996 更适合小批量或中等规模的样品分析。对于大批量样品,可以考虑自动化程度更高的分析设备。