TCIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序

在TCIE 116-2021《电子元器件故障树分析方法与程序》中，相较于旧版标准，新增了对“定量分析”的要求。这一变化对于提高故障树分析（FTA）的实际应用价值具有重要意义。

以定量分析中的概率计算为例，新版标准明确规定：在构建故障树时，不仅要定性地确定各基本事件的发生路径，还应根据历史数据和经验估算每个基本事件的概率，并据此计算顶事件的发生概率。具体应用时，首先需要收集相关电子元器件的失效数据，如失效率λ等参数。然后按照以下步骤操作：

1. 确定故障树结构，识别所有基本事件；

2. 收集并整理各基本事件的失效数据；

3. 根据公式P(T)=1-(1-Pi)^Mi计算顶事件发生概率，其中Pi为第i个基本事件的发生概率，Mi为其重复次数；

4. 对结果进行敏感性分析，找出影响顶事件发生概率的关键因素；

5. 根据分析结果优化系统设计，降低高风险路径的可能性。

通过这样的定量分析，可以更准确地评估电子系统的可靠性，为设计改进提供科学依据。例如，在一次实际应用中，某电子产品因某一电路板上的电容失效导致整体功能丧失。通过FTA定量分析发现，该电容的失效概率较高，且其失效直接触发了顶事件。于是工程师调整了电路设计，降低了电容的工作电压，并增加了冗余设计，最终显著提高了产品的可靠性和安全性。